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掃描電遷移率粒徑譜儀粉塵儀

掃描電遷移率粒徑譜儀粉塵儀

產(chǎn)品型號(hào): VISCO™(SMPS-3938)

所屬分類:粉塵檢測(cè)儀/粉塵儀

產(chǎn)品時(shí)間:2023-10-28

簡(jiǎn)要描述:掃描電遷移率粒徑譜儀粉塵儀
TSI 的掃描電遷移率粒徑譜儀廣泛用于測(cè)量空氣中的顆粒尺寸分布的標(biāo)準(zhǔn)。這一系統(tǒng)也經(jīng)常用來(lái)使懸浮在液體中的顆粒的顆粒尺寸的測(cè)量精度。美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究所( NIST )使用一個(gè) TSI DMA 尺寸為 60 nm 和 100 nm 的標(biāo)準(zhǔn)尺寸的參考材料。掃描電遷移率粒徑譜儀是一個(gè)精確地粒徑檢測(cè)技術(shù),沒(méi)有假設(shè)顆粒的形狀粒度分布而直接測(cè)量數(shù)濃度。該方法是獨(dú)立的顆粒

詳細(xì)說(shuō)明:

掃描電遷移率粒徑譜儀粉塵儀

TSI  的掃描電遷移率粒徑譜儀廣泛用于測(cè)量空氣中的顆粒尺寸分布的標(biāo)準(zhǔn)。這一系統(tǒng)也經(jīng)常用來(lái)使懸浮在液體中的顆粒的顆粒尺寸的測(cè)量精度。美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)與技術(shù)研究所(  NIST )使用一個(gè) TSI DMA 尺寸為 60 nm100 nm  的標(biāo)準(zhǔn)尺寸的參考材料。掃描電遷移率粒徑譜儀是一個(gè)精確地粒徑檢測(cè)技術(shù),沒(méi)有假設(shè)顆粒的形狀粒度分布而直接測(cè)量數(shù)濃度。該方法是獨(dú)立的顆粒或流體的折射率,并具有高度的絕對(duì)尺寸精度和測(cè)量重復(fù)性。  TSI 模型 3938  是粒徑譜儀的第三代;可信的研究人員超過(guò) 30 年。 

特點(diǎn)和優(yōu)點(diǎn)   

高分辨率數(shù)據(jù):多達(dá) 167  個(gè)通道 

廣泛的尺寸范圍:從 2.5 nm  到 1000 nm   

 ISO 15900:2009  兼容 

快速測(cè)量:< 10  秒掃描 

寬的濃度范圍內(nèi), 107  particles/cm3 

最大的靈活性組件的設(shè)計(jì) 

無(wú)需電腦的操作, 觸摸屏控制 

易于安裝與不安裝工具和自動(dòng)發(fā)現(xiàn)部件 

離散粒子測(cè)量:適用于多模樣本 

獨(dú)立的顆粒和流體的光學(xué)性質(zhì) 

寬范圍的系統(tǒng)的選擇:水或丁醇計(jì)數(shù)器供選擇;傳統(tǒng)的或非放射性中和器的選擇 

應(yīng)用   

納米技術(shù)研究和材料的合成 

大氣研究和環(huán)境監(jiān)測(cè) 

燃燒和發(fā)動(dòng)機(jī)排氣的研究 

室內(nèi)空氣質(zhì)量的測(cè)量 

/  冷凝的研究 

吸入毒理學(xué)研究 

內(nèi)容包括   

靜電分類器與您選擇的 DMA  柱 

可兼容六種 CPC   

氣溶膠儀器 ®  軟件經(jīng)理 

數(shù)據(jù)采集計(jì)算機(jī)必須單獨(dú)購(gòu)買(mǎi)。 

美國(guó)TSI 掃描電遷移率粒徑譜儀(SMPS-3938)信息由美國(guó)TSI集團(tuán)中國(guó)公司為您提供,如您想了解更多關(guān)于美國(guó)TSI 掃描電遷移率粒徑譜儀(SMPS-3938)報(bào)價(jià)、型號(hào)、參數(shù)等信息,歡迎來(lái)電或留言咨詢。


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